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薄膜光譜檢測

2022-03-08 關(guān)鍵詞:薄膜光譜檢測 相關(guān):
薄膜光譜檢測

薄膜光譜檢測摘要:北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所,,可依據(jù)相應(yīng)檢測標(biāo)準(zhǔn)進行超導(dǎo)薄膜,、聚酯薄膜、尼龍薄膜,、塑料薄膜等各種薄膜光譜檢測服務(wù),,檢測周期:常規(guī)7-15個工作日出具薄膜光譜檢測報告

參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,,加急試驗5個工作日。

注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個人除外),。

  北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所,可依據(jù)相應(yīng)檢測標(biāo)準(zhǔn)進行超導(dǎo)薄膜,、聚酯薄膜,、尼龍薄膜、塑料薄膜等各種薄膜光譜檢測服務(wù),,亦可根據(jù)客戶需求設(shè)計方案,,為客戶提供非標(biāo)檢測服務(wù)。檢測周期:常規(guī)7-15個工作日出具薄膜光譜檢測報告

  檢測費用:樣品初檢后結(jié)合客戶檢測需求以及實驗復(fù)雜程度進行報價

  樣品量大?。壕唧w樣品量需要根據(jù)客戶的檢測項目來決定,,詳情您可以咨詢工程師

檢測范圍

  有聚乙烯薄膜、聚丙烯薄膜,、聚氯乙烯薄膜,、聚酯薄膜、光學(xué)薄膜,、復(fù)合薄膜,、超導(dǎo)薄膜、聚酯薄膜、尼龍薄膜,、塑料薄膜等,。

檢測標(biāo)準(zhǔn)列舉

  GB/T 22462-2008 鋼表面納米、亞微米尺度薄膜 元素深度分布的定量測定 輝光放電原子發(fā)射光譜法

  GB/T 26332.2-2015 光學(xué)和光子學(xué) 光學(xué)薄膜 第2部分:光學(xué)特性

  GB/T 32997-2016 表面化學(xué)分析 輝光放電發(fā)射光譜定量成分深度剖析的通用規(guī)程

  GB/T 33051-2016 光學(xué)功能薄膜 表面硬化薄膜 硬化層厚度測定方法

  GB/T 35927-2018 傅里葉變換顯微紅外光譜法識別聚合物層或夾雜物的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)程

  GB/T 36082-2018 納米技術(shù) 特定毒性篩查用金納米顆粒表面表征 傅里葉變換紅外光譜法

  HG/T 5077-2016 光學(xué)功能薄膜 近紅外光譜透過率的測量方法

  JB/T 13358-2018 光學(xué)薄膜帶通干涉濾光片

  SEMI PV31-0212-2012 光譜分辨的反射和透射的透明導(dǎo)電氧化物(TCO)度測試方法對薄膜光伏應(yīng)用

  SN/T 2891-2011 出口食品接觸材料 高分子材料 聚乙烯,、聚丙烯中個鉻,、鋯、釩和鉿的測定 電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法

  T/CSTM 00313-2021 基于光譜反演的光學(xué)薄膜常數(shù)測試方法

  T/GDASE 0012-2020 石墨烯薄膜層數(shù)的測定 激光顯微共焦拉曼光譜法

  T/GDNB 46-2021 稻田土壤鎘有效態(tài)的測定 梯度擴散薄膜(DGT)提取-電感耦合等離子體發(fā)射光譜法

中析報告注意事項

  · 報告無服務(wù)方簽字人簽名無效(簽名應(yīng)均為同一人);

  · 未加蓋“北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所”科研測試專用章無效;

  · 報告復(fù)印,、私自轉(zhuǎn)讓,、盜用、冒用,、涂改,、以及其他任何形式篡改均屬無效;

  · 委托方需保證樣品來源信息的真實性;

  · 報告真?zhèn)危嚎蓲叻纻未a查詢,或可在中析研究所官方網(wǎng)站“報告查詢”入口搜索報告編號進行查詢;

  · 24小時保持通訊,,報告有任何疑問,,請致電咨詢。

檢測準(zhǔn)備

  1,、與客戶進行積極有效的溝通,,了解客戶樣品的檢測需求,確定客戶所需服務(wù)的基本信息,,并及時溝通;

  2,、根據(jù)材料樣品,數(shù)量及檢測的項目需求,,郵寄樣品到我所;

  3,、結(jié)合樣品的數(shù)量、周期等信息,,出詳細(xì)的服務(wù)報價單,。

檢測實施

  1、內(nèi)容:根據(jù)樣品及客戶的檢測需求設(shè)計方案進行檢測;

  2,、成果:樣品檢測完成后對數(shù)據(jù)進行審核

  3,、整理數(shù)據(jù),給客戶郵寄紙質(zhì)報告/發(fā)送電子報告,。

  以上是關(guān)于薄膜光譜檢測相關(guān)介紹,周期,、方法、步驟以工程師為準(zhǔn),,如樣品特殊可與工程師交流溝通樣品特性,,為您設(shè)計合理的檢測分析方案,節(jié)約您的時間,。

中析儀器 資質(zhì)

中析薄膜光譜檢測 - 由于篇幅有限,,僅展示部分項目,,如需咨詢詳細(xì)檢測項目,請咨詢在線工程師

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